日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源

產(chǎn)品型號： Parallel Eye D

所屬分類：光源

產(chǎn)品時間：2025-08-07

簡要描述：日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D
*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細顆粒，還可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢。

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日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

*的多功能LED光源 不僅可以觀察漂浮的細顆粒，還可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢。

[功能1]可以
從遠程位置進行可視化

僅可視化的光源，可以到達很遠的地方

盡管LED通常不適合可視化微粒，但我們已經(jīng)實現(xiàn)了通過精que的光學設(shè)計可視化微粒的z佳光源。
盡管通常不可能將光源靠近實際位置，但Parallel Eye D可以將光從幾米遠的距離傳遞到可視化目標空間。

[功能2]
高靈敏度可視化

熒光燈下懸浮微粒的可視化

通過根據(jù)高感光度相機的感光度特性進行設(shè)計，我們實現(xiàn)了傳統(tǒng)普通光源所沒有的感光度。與
于細顆粒可視化的超靈敏相機“ Eyescope"結(jié)合使用時，即使在距光源幾米的距離處，也可以可視化微米級大小的細顆粒。
此外，如果使用了可選的濾鏡，即使在明亮的環(huán)境中進行可視化攝影，也可以在幾乎不降低感光度的情況下可視化顆粒。

[特征3]
也可以用作表面異物觀察光源

可視化表面附著的顆粒

通過與D-light相同的原理，只有粘附到表面的熒光粒子可以選擇性地可視化。可以通過熒光顏色的差異來識別物質(zhì)的類型。

[功能4]
實現(xiàn)低價的細顆粒可視化系統(tǒng)

與圖像處理程序包結(jié)合使用時，可以觀察到懸浮顆粒和表面粘附顆粒的當前狀態(tài)，并將其記錄在個人計算機上。與低功率激光器相比，高靈敏度的氣流和細顆粒可視化已成為可能，并且成本相對較低。

視覺可視化的z佳選擇“ Parallel Eye M"

<姐妹產(chǎn)品>
還有一種綠光類型，專門用于可視化粗顆粒和氣流示蹤劑。

日本snk漂浮的細小顆粒檢查光源Parallel Eye D

可視化系統(tǒng)配置的z佳解決方案

• 帶有小型CCD的圖像處理軟件包“ Particle Eye"，用于在PC上進行實時圖像處理和記錄

• 具有于微粒可視化的靈敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope"。

• 簡單的氣流速度分布測量軟件“ plus PIV"，可從氣流可視化圖像輕松獲得氣流速度分布

• “ D Light"，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色

• “ D Scope"是一種工具，可以捕獲細顆粒的各種信息，并通過捕獲弱熒光將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)。

• 我們還提供現(xiàn)場評估服務(wù)，可使用細顆粒可視化技術(shù)和表面粘附的異物可視化技術(shù)分析異物的現(xiàn)狀和因素。?