在半導體、光學薄膜、新材料研發(fā)等高精度制造領(lǐng)域，材料的厚度往往決定著產(chǎn)品的性能與命運。當測量精度進入微米乃至納米級別，您是否仍在為數(shù)據(jù)的準確性、操作的穩(wěn)定性以及設(shè)備的可靠性而困擾？

富士工機HKT-Master 0.01AA超薄膜測厚儀，一款專為挑戰(zhàn)極限精度而打造的專業(yè)儀器，旨在為您提供無可挑剔的測量解決方案，成為您品質(zhì)控制與前沿研發(fā)中值得信賴的伙伴。

為什么選擇HKT-Master 0.01AA？核心優(yōu)勢揭秘

我們深知，在超薄膜測量中，每一個微小的數(shù)字都舉足輕重。HKT-Master 0.01AA集成了富士工機的工藝與創(chuàng)新技術(shù)，為您帶來以下核心優(yōu)勢：

• ?? 精度，洞察入微
  0.01μm（10納米）的超高分辨率，讓超薄膜材料的微小厚度變化無處遁形。無論是監(jiān)測靜電卡盤的細微磨損，還是測量關(guān)鍵的光學鍍膜，它都能提供足以讓您信賴的精準數(shù)據(jù)。

• ?? 恒定壓力，穩(wěn)定如一
  摒棄傳統(tǒng)測厚儀因人為施力不均帶來的誤差。HKT-Master 0.01AA采用恒定的0.14N測量壓力與測量頭向下恒定設(shè)計，確保每一次測量都在相同的條件下進行，數(shù)據(jù)重復性高，不同操作者也能獲得一致結(jié)果。

• ?? 匠心選材，經(jīng)久耐用
  核心測頭采用R30碳化物（碳化鎢）球形測頭，這種超硬耐磨材料能有效抵抗長期使用帶來的磨損，極大延長了設(shè)備壽命，并保證了長期測量精度不衰減，為您節(jié)省長期成本。

• ?? 人性設(shè)計，高效便捷
  融合人體工學設(shè)計，長時間操作也不易疲勞。支持數(shù)據(jù)導出功能，便于您進行質(zhì)量追溯、統(tǒng)計分析及報告生成，無縫對接您的質(zhì)量管理體系。

?? 主要應(yīng)用場景：賦能高精尖產(chǎn)業(yè)

HKT-Master 0.01AA不僅是測量工具，更是推動產(chǎn)業(yè)升級的關(guān)鍵力量。

• 半導體行業(yè)：精準測量靜電卡盤（ESC）磨損厚度，實現(xiàn)預測性維護，避免非計劃停機，保障晶圓生產(chǎn)的連續(xù)性與穩(wěn)定性。

• 光學與電子行業(yè)：用于各類光學鏡頭、濾光片、顯示屏及觸摸屏等功能性薄膜的厚度質(zhì)量控制。

• 材料科研：為新材料的研發(fā)提供精準、可靠的超薄膜厚度數(shù)據(jù)支撐，加速研發(fā)進程。

?? 為專業(yè)場景而生

富士工機HKT-Master 0.01AA以其性能，已經(jīng)成為半導體設(shè)備維護、超薄材料研發(fā)及任何對厚度測量有嚴苛要求場景下的設(shè)備。它代表的不僅是一臺儀器，更是一種對品質(zhì)追求的態(tài)度。

如果您的測量需求在0.1μm級別，且更看重便攜性與無線操作，不妨也了解一下我們同系列的HKT-Lite 0.1型號，它或許是您更具性價比的優(yōu)質(zhì)之選。