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15270896115光學半導體器件（光電二極管）的光學特性測量和評估
用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)（用于光照射和光接收測量的光學系統(tǒng)） M-Scope Type I 是一種高性能光學系統(tǒng)，設(shè)計用于多用途光學應(yīng)用測量，例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。 配備用于光學測量的光纖連接端口和用于圖像處理分析的圖像檢測器連接端口，可以使用同一光學系統(tǒng)實現(xiàn)多個光學測量。 此外，可以根據(jù)目的添加各種光學測量組件，并且可以根據(jù)使用目的輕松構(gòu)建光學測量單元，例如測量目的，測量項目和測量觸覺。 光學系統(tǒng)可以根據(jù)測量目標和測量波長選擇和安裝最合適的透鏡或反射鏡。 這使得在最佳光學條件下進行各種測量成為可能。
它可以應(yīng)用于廣泛的領(lǐng)域和應(yīng)用，從光電探測器和傳感器的入射光測量，發(fā)光元件的光接收測量，光束輪廓測量等，到生物細胞的微光束照射。
用于高性能光學測量的光學系統(tǒng)包括標準 M 型 I 型和偏振依賴性對策 M 型 I/PF 型。
配備光纖連接端口，用于光學參數(shù)測量。 它可以以多種方式使用，例如使用光纖輸出型光源將測量光引入樣品，將測量光中繼到光纖以及使用光纖接收和測量光。
測量光照射測量
待測樣品的表面由來自測量光源的精確測量光照射。
測量光敏測量
從樣品中測量的光被中繼到光纖，以測量功率、波長和響應(yīng)等光學特性。
配備圖像檢測器連接端口。 光照射測量期間測量的光照射位置和光接收測量期間測量的光測量位置可以用同軸觀測相機直接觀察。 此外，還可以支持在光接收測量期間進行光束輪廓測量。
它配備了同軸觀測相機端口。 當測量光照射到樣品上時，通過同軸觀察照射位置，可以將測量光可靠地照射到樣品針點。 此外，當接收來自樣品的光時，通過同軸觀察光接收測量位置，可以將來自測量目標的光可靠地中繼到光纖。 此外，由于可以直接觀察到發(fā)光狀態(tài)，因此還可用于光束形狀測量應(yīng)用，例如光束輪廓測量。
測量光照射測量
測量光電二極管的光靈敏度和光響應(yīng)特性
測量各種光學傳感器的光接收靈敏度
測量各種光波導上的光入射引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性
光照射半導體器件的失效分析
生物醫(yī)學應(yīng)用，例如生物細胞的光照射
此外，通過用測量光照射各種顯微樣品來測量和分析光學特性
測量光敏測量
測量半導體激光器和VCSEL等激光設(shè)備的發(fā)射特性
測量從各種光波導接收到的光引起的插入損耗、傳播特性和連續(xù)性
通過測量各種發(fā)光設(shè)備的光接收來測量和分析光學特性
此外，通過測量各種發(fā)光樣品的光接收來測量和分析光學特性
在晶圓級測量和分析各種光半導體器件的光學特性
硅光子器件的研究與開發(fā)
光學模塊和透鏡模塊的裝配調(diào)整和質(zhì)量評估
此外，光照射/光接收測量，圖像測量，檢查，一般研究和開發(fā)
